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擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中控制誤差并確保測(cè)量符合標(biāo)準(zhǔn)，需從設(shè)備、環(huán)境、樣品、操作及數(shù)據(jù)處理等環(huán)節(jié)進(jìn)行系統(tǒng)性管理。以下是各環(huán)節(jié)的詳細(xì)控制方法：一、擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)設(shè)備校準(zhǔn)與維護(hù)1.定期校準(zhǔn)依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（如IEC60243、ASTMD149）或?qū)?..
Xl.絕緣耐電壓強(qiáng)度、介電強(qiáng)度、介電擊穿電壓測(cè)試的意義以及涉及的標(biāo)準(zhǔn)X1.1介紹Xl.1.1簡(jiǎn)要回顧了擊穿的三種假定機(jī)制，分別是：（1）放電或電暈機(jī)制，（2）熱機(jī)制，以及（3）固有機(jī)制，討論了在原理上對(duì)實(shí)際電介質(zhì)產(chǎn)生影響的因素，并對(duì)數(shù)據(jù)的解...
用于不同絕緣材料的絕緣強(qiáng)度、介電強(qiáng)度、擊穿電壓測(cè)試的典型電極匯總：1.裝置1.1電壓源—由變化正弦低壓電源通過(guò)升壓變壓器提供測(cè)試電壓。作為電壓源的變壓器及相關(guān)的控制應(yīng)具有以下功能：1.1.1電壓峰值與電壓有效值的比率應(yīng)等于(1.34到1.4...
型號(hào)：ZJD-B介電常數(shù)介質(zhì)損耗及ZJD-C介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)量介電常數(shù)、電容率、介質(zhì)損耗特性的影響因素有哪些？X1.電容率和損耗特征的影響因素X1.1頻率X1.1.1絕緣材料能在整個(gè)電磁波頻譜上使用，這些頻譜包括從直流電到至少3×1010...
液晶顯示：ZST-121觸摸屏控制：ATI-212測(cè)量絕緣電阻、體積電阻率、表面電阻率時(shí)的影響因素有哪些？X1.絕緣電阻或電導(dǎo)測(cè)量的影響因素X1.1材料的固有變化——由于在類(lèi)似試驗(yàn)條件下的某個(gè)給定樣本的電阻變化，以及相同材料的不同樣本之間的...
ZST-121體積表面電阻率測(cè)試儀不規(guī)則材料電阻率的計(jì)算公式大全另有升級(jí)款觸摸屏體積和表面直讀電阻率的測(cè)試儀器設(shè)備基本參數(shù)：ZST-1211、電阻測(cè)量范圍：0.01×104Ω～1×1018Ω。2、電流測(cè)量范圍為：2×10-4A～1×10-1...
表面電阻率測(cè)試儀可用于測(cè)量各種織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻（表面電阻率），表面比電阻的大小可間接反映試驗(yàn)材料表面靜電泄漏時(shí)間的長(zhǎng)短，從而反映試驗(yàn)材料的帶靜電性能。采用三電極法對(duì)試樣進(jìn)行測(cè)試，其試驗(yàn)裝置主要有平板式電極裝置和高...
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