擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)在實(shí)驗(yàn)過程中控制誤差并確保測(cè)量符合標(biāo)準(zhǔn),需從設(shè)備、環(huán)境、樣品、操作及數(shù)據(jù)處理等環(huán)節(jié)進(jìn)行系統(tǒng)性管理。以下是各環(huán)節(jié)的詳細(xì)控制方法:一、擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī)設(shè)備校準(zhǔn)與維護(hù)1.定期校準(zhǔn)依據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)(如IEC60243、ASTMD149)或?qū)?..
介電強(qiáng)度測(cè)試儀介電強(qiáng)度測(cè)試儀升壓方式1、短時(shí)(快速)試驗(yàn)1.1將試驗(yàn)電壓由零開始以均勻均勻的速度升高直至擊穿發(fā)生.1.2對(duì)被試材料選擇升壓速度時(shí),應(yīng)使大多數(shù)擊穿發(fā)生在(10~20)s之間,則認(rèn)為試驗(yàn)是成功的.1.3升壓速度應(yīng)從下述中選取:1...
介電常數(shù)測(cè)試儀4介電常數(shù)測(cè)試儀使用方法4.1ZJD-B介電常數(shù)測(cè)試儀裝置圖示:1圓筒電容器。2平板電容器。3圓筒測(cè)微桿。4平板測(cè)微桿。5圓筒測(cè)微頭。4.2被測(cè)樣品的準(zhǔn)備:被測(cè)樣品要求為圓形,直徑38~42mm配ZJD-B。這是減小因樣品邊緣...
電壓擊穿試驗(yàn)儀由電腦控制,是我公司自主研發(fā)的全新第三代電壓擊穿試驗(yàn)儀,電壓擊穿試驗(yàn)儀電子控制系統(tǒng)是通過西門子PLC控制,數(shù)據(jù)采集方式通過光電隔離,有效解決試驗(yàn)過程中的抗干擾問題,軟件操作使用方便,能夠?qū)崟r(shí)顯示動(dòng)態(tài)曲線,同時(shí)升壓速率無級(jí)可調(diào),...
介電常數(shù)測(cè)試儀特點(diǎn):介電常數(shù)測(cè)試儀本公司創(chuàng)新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù),測(cè)Q精度和速度大大提高。介電常數(shù)測(cè)試儀低至20nH殘余電感,保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。介電常數(shù)測(cè)試儀特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù):Q值,測(cè)試頻率,調(diào)諧狀態(tài)等。介電常數(shù)測(cè)試儀...
電壓介電擊穿儀器北京生產(chǎn)廠家北京中航時(shí)代儀器設(shè)備有限公司電壓介電擊穿試驗(yàn)儀由電腦控制,是我公司自主研發(fā)的全新第三代介電擊穿檢測(cè)儀器,電壓介電擊穿試驗(yàn)儀電子控制系統(tǒng)是通過西門子PLC控制,數(shù)據(jù)采集方式通過光電隔離,有效解決試驗(yàn)過程中的抗干擾問...
體積表面電阻測(cè)定儀(ZST-121)符合標(biāo)準(zhǔn):GB1410《固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法》ASTMD257《絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法》一、概述本儀器既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國In公司的大規(guī)模...
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